1. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
پدیدآورنده : \ Elie Maricau, Georges Gielen
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary,نیمه هادیهای اکسید فلزی مکمل,a04,a04,Linear integrated circuits -- Reliability.,مدارهای مجتمع خطی -- اطمینانپذیری
رده :
E-Book
,
2. Analog IC reliability in nanometer CMOS
پدیدآورنده : Elie Maricau, Georges Gielen
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Linear integrated circuits-- Reliability,Metal oxide semiconductors, Complementary
رده :
TK7874
.
M37
2013
3. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Integrated circuits ; Ultra large scale integration. ; Finite element method. ; Reliability (Engineering) ;
4. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : Cher Ming Tan ... ]et al.[.
کتابخانه: (کرمان)
موضوع : Integrated circuits--Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability )Engineering(
رده :
TK
7874
.
76
.
A67
2011
5. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : / Cher Ming Tan ... [et al.]
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Integrated circuits, Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability (Engineering)
رده :
E-BOOK
6. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections
پدیدآورنده : Cher Ming Tan ... [et al.]&
موضوع : Integrated circuits, Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability (Engineering)
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
7. Circuit design for reliability /
پدیدآورنده : Ricardo Reis, Yu Cao, Gilson Wirth, editors
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Design and construction.,Integrated circuits-- Reliability.
رده :
TK7874
8. Circuit design for reliability
پدیدآورنده : / Ricardo Reis, Yu Cao, Gilson Wirth, editors
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Integrated circuits--Design and construction,Integrated circuits--Reliability
رده :
TK7874
.
C55
2015
9. ESD :
پدیدآورنده : Steven H. Voldman
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Electric discharges,Electrostatics,Integrated circuits-- Protection,Integrated circuits-- Reliability,Integrated circuits-- Testing,Semiconductors-- Failures
رده :
TK7871
.
852
.
V65
2009
10. Electromigration modeling at circuit layout level
پدیدآورنده : Cher Ming Tan, Feifei He
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Electrodiffusion-- Simulation methods,Integrated circuits-- Reliability
رده :
TK7874
.
T36
2013
11. Electronics reliability and measurement technology :
پدیدآورنده : edited by Joseph S. Heyman
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Integrated circuits-- Reliability-- Congresses,Integrated circuits-- Testing-- Congresses,Nondestructive testing-- Congresses
رده :
TK7874
.
E486
1988
12. Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Reliability- Congresses,، Non- destructive testing- Congresses
13. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع : Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
14. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
15. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
پدیدآورنده : Chakraborty, Kanad
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Random access memory-- Reliability,، Integrated circuits-- Fault tolerance,، Semiconeductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4
.
C44
2002
16. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories
پدیدآورنده : Chakraborty, Kanad
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Reliability ، Random access memory,، Integrated circuits -- Fault tolerance,، Semiconductor storage devices
رده :
TK
7895
.
M4C44
17. Gate dielectric integrity :
پدیدآورنده : Dinesh C. Gupta and George A. Brown, editors.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.,Silicon oxide films-- Testing.,Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.
رده :
TK7871
.
85
.
G32
2000
18. Hf-based high-k dielectrics
پدیدآورنده : / Young-Hee Kim, Jack C. Lee
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Dielectrics,Hafnium oxide,Integrated circuits , Reliability,Semiconductors , Junctions,Breakdown (Electricity),Metal oxide semiconductor field-effect transistors
رده :
E-BOOK
19. High-Reliability products
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)
موضوع : Handbooks, manuals. etc. ، Integrated circuits-reliability,Handbooks, manuals, etc. ، Metal oxide semiconductors, complementary reliability
20. Hybrid microcircuit reliability data /
پدیدآورنده : prepared by IIT Research Institute.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Hybrid integrated circuits-- Reliability.
رده :
TK7874
.
I33
1976